高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術
鋼鐵行業(yè)測試專用配件
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結構，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
真空泵
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然
EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行精確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35-70
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm

產(chǎn)品型號：EDX 4500
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35-70
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

合金測試高效超薄窗X光管
超薄窗大面積的原裝進口SDD探測器
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結構，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
技術指標：
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
能量分辨率為：（140±5）eV
管壓：5KV-50KV
儀器技術指標：
1、分析元素范圍 ： 從硫（S）到鈾（U）
2、測試對象：固體、粉末、液體
3、元素含量分析范圍：1ppm—99.99
4、同時分析元素：幾十種元素同時分析
5、任意多個可選擇的分析和識別模型
6、相互的基體效應校正模型
7、多變量非線性回歸程序
8、多次測量重復性可達：0.05 (含量大于96的樣品)
9、工作溫度:15℃—30℃
10、工作濕度：≤70
11、工作電壓：220V AC
12、樣品腔尺寸：*100mm
13、儀器尺寸：212*258*258mm
14、儀器重量：5kg
15、建議測量時間 10-200S可以調

儀器配置：
1、探測模塊：Si-PIN
2、X射線源：40kV、100uA
3、準直器：Ф1mm、Ф2mm和Ф4mm自動切換
4、濾光片：內置Al Ti Cu
5、樣品腔：下照式，
6、高清晰、高分辨率的5寸PDA，軟件安裝在Microsoft Windows CE系統(tǒng)操作靈活簡單，很好的支持PDA系統(tǒng)升級和軟件升級
7、指示和警告：電源指示燈，輻射警告燈
8、保護系統(tǒng)：上蓋打開時，高壓自動關閉
9、樣品放置：配萬向測試支架，隨心放置各種樣品
10、報告輸出：藍牙打印
11、安全防護箱：400*300*350mm，4.5kg

應用領域
主要應用黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測

更準確的檢測結果是天瑞人堅持不懈的追求，同時天瑞人還時刻牢記為客戶提供更優(yōu)質的服務。全新開發(fā)研制的EDX 9000正是秉承了這一理念。它不僅繼承了天瑞儀器EDX系列準確、快速、無損、直觀及環(huán)保五大特點，采用分析儀器行業(yè)先進的極速探測器技術（X-SDD）可將測試時間降低到1秒。同時EDX 9000還采用了天瑞儀器專利產(chǎn)品精密的定位系統(tǒng)，可實現(xiàn)圖像聯(lián)動控制，多點連續(xù)測試。新增加電動開發(fā)的樣品腔使操作更加方便，全新設計自動樣品平臺讓準確檢測得到保證。

性能優(yōu)勢

快—1秒鐘出結果
采用行業(yè)先進的極速探測器技術——（X-SDD）分辨率至125eV
優(yōu)勢：探測面積大（面積達25mm2）、單位時間內接受信息多、計數(shù)率高分辨率好，探測效率更高，探測信噪比更強，檢出限更低
采用行業(yè)先進的數(shù)字多道技術
優(yōu)勢：有效提高輸出效率，實現(xiàn)超高計數(shù)率，保證采集有效計數(shù)率可達1000Wcps
采用大功率X光管及先進的準直濾光系統(tǒng)
優(yōu)勢：激發(fā)效率更高
光閘系統(tǒng)
優(yōu)勢：樣品更換無需關閉高壓，提高測試效率與測試精度
精密的定位系統(tǒng)
超高清晰工業(yè)攝像頭，更清晰的顯示測試點
多點測試
2D全自動樣品臺——可實現(xiàn)圖像聯(lián)動控制，多點連續(xù)測試
超小樣品檢測——小可測到0.2毫米
8種準直器、4種濾光片快速切換功能，可根據(jù)不同樣品進行選擇
準直器小可達0.2毫米，針對超小樣品可準確聚焦檢測
人性化的設計
更安全：X射線聯(lián)動安全裝置——光閘與聯(lián)動裝置互動；儀器外殼與高壓使能端相聯(lián)動
更快捷：多點測試，點哪測哪
預約預熱：根據(jù)設定時間，儀器可定時開始測試
預約開機預熱功能：客戶可預約儀器開機時間，同時可以儀器預熱并自動檢測、校正儀器狀態(tài)；同時可以實現(xiàn)預約關機，
關機前可設定聲光提示

技術參數(shù)

測量元素范圍：硫（S）～鈾（U）
測量時間：1s或以上
檢出限：分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm
含量范圍：2ppm～99.9
穩(wěn)定性：0.02
管壓：5～50KV
管流：≤1000uA
探測器：X-SDD探測器，分辨率可達125eV
準直器：8種準直器自動切換
濾光片：4種濾光片切換
樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭
環(huán)境濕度：≤70
環(huán)境溫度：15℃～30℃
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
XRF測試儀產(chǎn)品特點：操作界面簡單，測量方便，快捷無損檢測，在無標準樣品時亦可準確分析采用1275eV的高精度分辨率，保證數(shù)據(jù)測量的精度。進口高端DSP數(shù)字處理芯片能夠檢測鹵族元素的含量電控全自動機蓋升降軟件控制同置高清晰攝像頭，可幫助客戶判斷測量的部位電制冷型的X光管配合光管保養(yǎng)程序，散熱更好，并能有效的X光管的壽命外觀高貴，加大儀器內部空間，儀器內部通風性優(yōu)，并有效屏蔽電磁干擾采用獨特位快速自動校準。自動譜線識別、多元素同時定性定量分析、讓用戶方便認識分析樣品的組成國際ling先的定量分析算法，包含F(xiàn)P法、檢量線法、經(jīng)驗系數(shù)法、理論系數(shù)法、網(wǎng)絡算法等客戶可根據(jù)自已的要求進行二次開發(fā)，自行開發(fā)任意多個分析方法設置了自動安全防護開關，以確保用戶安全使用。


XRF測試儀產(chǎn)品介紹及應用范圍：環(huán)保是世界的潮流，不斷出現(xiàn)的環(huán)境污染事件，世界各國都陸續(xù)了相關控制商品中有害元素含量的法規(guī)，而且對有害元素的限制值呈日漸降低的趨勢。面對這市場需求，秉譜儀器，無微不至的精神，采用zui新技術，特別設計了520L系列的X熒光光譜儀。應用領域：金屬冶金行業(yè)微量元素的分析及金屬中微量有害元素的分析環(huán)保土壤、空氣及水等介質中痕量重金屬的分析金屬成品制造行業(yè)樹脂膜層中微量元素的分析,貴金屬行業(yè)中微量對人體有害元素微量元素的分析,稀土行業(yè)中微量元素的分析,金屬鍍層行業(yè)金屬鍍層亞納米級厚度的分析,外貿(mào)出口行業(yè)中對人體有害元素微量的分析,玩具出口行業(yè)中八大中金屬微量元素的分析.


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