測定干膜厚度的重要性在于保證涂覆達(dá)到規(guī)定的厚度，避免由于不適當(dāng)?shù)暮穸葘?dǎo)致涂層的過早失效。干膜厚度的測量，必須在涂膜完全干燥后，采用干膜測厚儀進(jìn)行測定。常用的干膜測厚儀有：磁性測厚儀、固定探頭測厚儀、渦流儀和破壞性測厚儀。磁性厚度儀是目前廣泛應(yīng)用的，其中有一種筆式測厚儀，用于現(xiàn)場檢查十分便捷，不用于精密檢查。測量時，必須使筆尖的磁探頭接觸并垂直于涂層表面，當(dāng)彈簧的張力超過探頭對鐵基體的引力時，其筆尖端的磁探頭從涂層表面斷開，其分開瞬間的讀數(shù)為干膜厚度。

　　檢測時，測量點的選擇要注意分布的均勻性和代表性。對于大面積的平整表面每2m2測定一點，每點測定三次，計算算術(shù)平均值。焊縫、鉚釘?shù)葴y定確有困難的部位可不予測定，但為防止涂裝過薄應(yīng)手工刷涂一遍。對于面積較小的區(qū)域或部件，需保證每一面應(yīng)有三個以上的檢測點。對干膜厚度的要求一般如下：所有厚度測定點的平均值不應(yīng)低于規(guī)定干膜厚度的90；未達(dá)到規(guī)定干膜厚度的測定點數(shù)目不應(yīng)超過測定點總數(shù)的10。未達(dá)到規(guī)定厚度者應(yīng)進(jìn)行如下處理：合格率低于80，需全面補(bǔ)涂一道。合格率為80~90，應(yīng)根據(jù)情況做局部涂漆；焊縫、鉚釘部位必須重涂一道涂料。許多涂層膜厚超過規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)，一般都不成問題，但帶來了涂料的過多損耗和涂裝經(jīng)費的增加。但高膜厚不能產(chǎn)生過度的流掛、起皺或龜裂等缺陷。由于涂層過厚會影響溶劑的揮發(fā)和完全干燥，以及下一涂層的固化，應(yīng)予以注意。當(dāng)膜厚超過規(guī)定較大干膜厚度的10，應(yīng)設(shè)法解決。

膜厚儀與涂層測厚儀的差別

膜厚儀一般來說和涂層測厚儀是一類產(chǎn)品。

膜厚儀一般是測氧化膜層厚度，常見的鋁基，銅基氧化，測量時候用涂層測厚儀選擇N（非磁性）探頭，這樣測鋁基等氧化層也稱為膜厚儀。

涂層測厚儀正常情況下有兩種測量原理，配F合N探頭，或者FN一體探頭。氧化層一般是幾微米到十幾微米，但是普通的涂層測厚儀誤差比較大，需要用高精度的涂層測厚儀測量氧化層.

兩者是只是根據(jù)材料有細(xì)微區(qū)別，不過現(xiàn)在使用者很多不了解，也相互稱呼。